| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 50万-100万 |
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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 能源,电子 |
菲希尔X射线镀层测厚仪
用途：
X射线镀层测厚仪主要用于测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。
菲希尔X射线镀层测厚仪典型的应用领域有：
1、样品定位简单：① XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上，然后将样品台如抽屉般推入仪器内部；
②XDLM-PCB210和220：仪器配备了高精度、可编程的XY平台并带有弹出功能；激光点作为辅助定位，能帮助快速对准测量位置；
2、高分辨彩色摄像头，使得对准测量位置的过程更加准确、简便；
3、通过强大且界面友好的WINFTM®软件，可在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有 的相关信息的显示等；
4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。
项目 型号 |
| XDLM-PCB210/220
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通用规格 | 设计用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ，测量薄镀层和微小结构样品， 分析合金组分
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元素范围 | 从元素氯 (17) 到铀 (92)，最多可以同时测定24种元素 | ||||
工作台
| 平台 | 固定式样品平台带有手动拉出功能 | 马达驱动可编程X/Y平台，带有自动弹出功能 | ||
可用样品平台面积（宽×深） | （600 x 600）mm ² 带扩展板时:（1200 x 900mm² | （600 x 600）mm² | |||
X/Y平台最大移动距离 | \ | 450mm x 300mm | |||
X/Y平台最大移动速度 | \ | 80mm/s | |||
X/Y平台最大移动精度 | \ | ≤0.01mm（单向） | |||
电器参数 | 电源要求 | AC220V 50Hz | |||
功耗 | 最大120W（不包括计算机） | ||||
保护等级 | IP40 | ||||
环境要求 | 使用温度 | 10℃-40℃ | |||
存储或运输时的温度 | 0℃-50℃ | ||||
空气相对湿度 | ≤95%RH，不结露 | ||||
设计单元 | 计算机 | Windows®-PC | |||
软件 | 标准：Fischer WinFTM® BASIC 可选：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER | ||||
尺寸规格 | 外部尺寸（宽×深×高） | 610mm×750mm×450mm | Xy样品台处于最大行程时： 1000mm×1265mm×470mm | ||
带扩展板时： 1200mm×1050mm×450mm | XY样品台处于初始状态时： 650mm×810mm×470mm | ||||
重量 | 约86KG | ||||
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